電容器元件的失效規(guī)律
發(fā)布日期：2023-08-03 13:48:46瀏覽次數(shù)：52
在可靠性指標(biāo)中,失效率(λ)是衡量元件可靠性的主要指標(biāo)。λ愈小就表示元件可靠性愈好。大量實(shí)驗(yàn)表明:元件失效率與工作時(shí)間之間的關(guān)系呈寬底谷型(浴盆形、船底形)曲線(見圖2.30)。
曲線分三個(gè)區(qū)域:A區(qū)為早期失效區(qū),B區(qū)為偶然失效區(qū),C區(qū)為耗損失效區(qū)。
在早期失效區(qū)，λ隨時(shí)間增加而下降。這表明產(chǎn)品由設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程中的工藝、材料等缺陷造成的隱患在元件工作后很快就暴露出來。通過嚴(yán)格的質(zhì)量控制或工藝篩選及早期應(yīng)力老化試驗(yàn)可減少或剔除早期失效產(chǎn)品。
在偶然失效區(qū)，失效的發(fā)生帶有隨機(jī)性,λ低而穩(wěn)定,是元件最良好的工作階段，也稱為元件的使用壽命期。
耗損失效區(qū)是表征元件使用后期,產(chǎn)品由于老化或損傷等原因?qū)е滦阅芟陆?失效率隨時(shí)間的遷延而迅速增大?？赡艿脑?應(yīng)在元件進(jìn)人耗損失效區(qū)前予以更換,以保證整機(jī)的可靠工作。
